特許
J-GLOBAL ID：201103028007082407

計測装置

発明者：
福田 浩司

福田 浩司 について

, 
岩波 瑞樹

岩波 瑞樹 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 吉村 俊一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-049293
公開番号（公開出願番号）：特開2011-185652
出願日： 2010年03月05日
公開日（公表日）： 2011年09月22日
要約：
【課題】簡易な構成を有するとともに、安価でかつ的確に電界または磁界を計測することができる計測装置を提供すること。【解決手段】検出装置Sは、計測する電界によってプローブ部100を介して強度変調が生じた強度変調レーザ光の周波数に基づいて、測定用レーザ光及び参照用レーザ光の周波数を調整した上で、当該強度変調レーザ光と参照用レーザ光の差周波数成分をヘテロダイン検出するようになっている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電界または磁界を計測する計測装置であって、 所定の周波数によって測定光を生成する第1光源と、 所定の周波数によって前記測定光に対する参照光を生成する第2光源と、 前記生成された測定光が入射され、測定対象となる電界または測定対象となる磁界の何れかに基づいて当該入射された測定光の屈折率を変化させる光学結晶ユニットと、 前記光学結晶ユニット内にて生じた測定光の屈折率の変化に基づいて当該測定光の周波数を振幅変調に変換させる変換手段と、 前記第1光源によって生成される測定光の周波数または前記第2光源によって生成される前記参照光の周波数の少なくとも何れか一方の周波数を調整する調整手段と、 前記参照光に基づいて前記周波数を変調した測定光に対してヘテロダイン検出を実行する検出手段と、 を備えることを特徴とする計測装置。
IPC (1件)：
G01R 29/08
FI (1件)：
G01R29/08 F
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM