特許
J-GLOBAL ID：200903032600725909

近傍電磁界測定装置

発明者：
土屋 昌弘

土屋 昌弘 について

, 
笹川 清隆

笹川 清隆 について


出願人/特許権者：
独立行政法人情報通信研究機構

独立行政法人情報通信研究機構 について


代理人 (4件)： 小林 浩 ,  片山 英二 ,  小林 純子 ,  廣瀬 隆行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-004925
公開番号（公開出願番号）：特開2006-194663
出願日： 2005年01月12日
公開日（公表日）： 2006年07月27日
要約：
【課題】測定装置に対する技術的および/または経済的な負荷の少ない近傍電磁界測定装置を提供する。【解決手段】 光源2と、光源の出力光を変調するための変調器3と、変調器を制御する変調信号を発生するための変調信号源4と、変調手段の出力光の波面をプローブに整合するように調整するための波面整合光学系5と、波面整合光学系5からの出力光を、検体が発生する近傍電磁界によって変調するための磁気光学素子を具備するプローブ6と、プローブの出力光から近傍電磁界の周波数を含む出力光を取り出すための検波光学系7と、検波光学系が取り出した近傍電磁界の周波数を含む出力光を電気信号に変換するための光電変換器8と、光電変換器の出力信号から所定の周波数成分を有する信号を抽出するための濾波器9と、濾波器の出力信号を測定するための測定装置10,11とを具備する近傍電磁界測定装置1などによって解決される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源(2)と、 前記光源の出力光を変調するための変調器(3)と、 前記変調器を制御する変調信号を発生するための変調信号源(4)と、 前記変調手段の出力光の波面をプローブに整合するように調整するための波面整合光学系(5)と、 前記波面整合光学系(5)からの出力光を、検体が発生する近傍電磁界によって変調するための電気光学素子又は磁気光学素子を具備するプローブ(6)と、 前記プローブの出力光から前記近傍電磁界の成分を含む出力光を取り出すための検波光学系(7)と、 前記検波光学系が取り出した前記近傍電磁界の成分を含む出力光を電気信号に変換するための光電変換器(8)と、 前記光電変換器の出力信号から所定の周波数成分を有する信号を抽出するための濾波器(9)と、 前記濾波器の出力信号を測定するための測定装置(10、11) を具備する近傍電磁界測定装置。
IPC (3件)：
G01R 29/08 ,  G01R 29/10 ,  G01R 15/24
FI (4件)：
G01R29/08 D ,  G01R29/10 E ,  G01R15/07 C ,  G01R15/07 B
Fターム (3件)：
2G025AB10 ,  2G025AB11 ,  2G025AC06
引用特許：
出願人引用 (5件)
  • 電圧測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-019258   出願人：浜松ホトニクス株式会社, 神谷武志
  • 特開昭63-088469
  • 減衰特性測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-223628   出願人：浜松ホトニクス株式会社
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審査官引用 (7件)
  • 電圧測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-019258   出願人：浜松ホトニクス株式会社, 神谷武志
  • 減衰特性測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-223628   出願人：浜松ホトニクス株式会社
  • 特開昭63-088469
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引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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