自動試験器用同軸プローブインタフェース

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：小野新次郎 , 社本一夫 , 小林泰 , 千葉昭男 , 富田博行 , 小見山泰明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-534885
特許番号：特許第4575593号
出願日： 1999年03月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】テスターインタフェースをテスター(102、104)からテスト中のデバイス(108)へ伸長するためのプローブインタフェース(406)において、それぞれ複数の穴(例えば216、218)を有する、実質的に平行で互いに間隔をあけて配置された上部及び下部絶縁リテイナー(214、212)と、それぞれが前記上部及び下部絶縁リテイナーそれぞれの複数の穴の内の1つと係合し、前記上部及び下部絶縁リテイナーの間の距離を伸びる、複数の接点プローブアッセンブリ(220)と、前記上部及び下部絶縁リテイナー(214、212)を保持し、前記上部及び下部絶縁リテイナーの間の距離を維持するフレーム(562)と、を備え、前記各接点プローブアッセンブリは、第1剛体導体管(344)と、前記第1剛体導体管の中を通りこれと係合するようにされた少なくとも1つの環状の絶縁リテイナー(例えば342、345の何れか)と、前記少なくとも1つの環状の絶縁リテイナーの中を通りこれと係合するようにされた第1接点プローブ(354)と、前記第1剛体導体管と連続的に接する第2剛体導体基準管(351)とを含み、前記第1剛体導体管及び前記第2剛体導体基準管は電気的に一体接続されることを特徴とするプローブインタフェース。

IPC (3件)：

G01R 1/18 ( 200 6.01) , G01R 1/06 ( 200 6.01) , G01R 31/28 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01R 1/18 , G01R 1/06 E , G01R 31/28 K

引用特許：

出願人引用 (4件)

特開平2-176568
コンタクトプローブ
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-353702 出願人：日本電気株式会社
特開昭60-207343

全件表示

審査官引用 (9件)

特開平2-176568
特開平2-176568
コンタクトプローブ
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-353702 出願人：日本電気株式会社

全件表示

前のページに戻る