特許

J-GLOBAL ID：201103031138233320

X線測定装置

発明者： 上畠 一晃 ,  市沢 康史 ,  大日方 祐彦
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-064259
公開番号（公開出願番号）：特開2011-196837
出願日： 2010年03月19日
公開日（公表日）： 2011年10月06日
要約：

【課題】厚さ測定装置の床面設置面積や占有空間を抑えるX線管の配置方法を取りながら、X線の線質を均質化し測定時の利便性を高めたX線測定装置を提供する。【解決手段】被測定物(試料)を搬送させながらX線を用いて前記試料の物理量の測定を行うX線測定装置において、前記試料の搬送方向に略直角に配置されたラインセンサと、前記試料の上方に配置され前記試料を透過して前記X線を前記ラインセンサに照射する複数のX線源からなり、前記複数のX線源はフィラメントからターゲットに向かう電子の方向が前記ラインセンサの長手方向と同方向となるように配置した。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被測定物(試料)を搬送させながらX線を用いて前記試料の物理量の測定を行うX線測定装置において、前記試料の搬送方向に略直角に配置されたラインセンサと、前記試料の上方に配置され前記試料を透過して前記X線を前記ラインセンサに照射する複数のX線源からなり、前記複数のX線源はフィラメントからターゲットに向かう電子の方向が前記ラインセンサの長手方向と同方向となるように配置したことを特徴とするX線測定装置。

IPC (1件)：

G01N 23/04

FI (1件)：

G01N23/04

Fターム (5件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA12 ,  2G001HA13

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭51-137441
  
• 特開昭61-143038
  
• 放射線測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-034289   出願人：横河電機株式会社