陽電子を用いた材料評価装置および評価方法

発明者： , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (3件)：穂上照忠 , 穂上照忠 , 森道雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-300700
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116706
特許番号：特許第3585789号
出願日： 1999年10月22日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
請求項（抜粋）：

【請求項1】陽電子線源、電磁レンズ、陽電子検出器、およびγ線測定器を有する陽電子を被測定材料に入射し、入射後陽電子の寿命および放出γ線を測定する装置であって、電磁レンズを間において、陽電子線源、電磁レンズおよび被測定材料がその順に同一軸上に配置されていること、陽電子線源と電磁レンズとの距離を前記軸上にて任意に変えて固定できる機構を有すること、および少なくとも陽電子線源から被測定材料までの陽電子飛翔経路は真空に保持できること、を特徴とする材料評価装置。

IPC (1件)：