特許
J-GLOBAL ID:201103032562254601
半導体装置の製造方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
篠部 正治
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-230162
公開番号(公開出願番号):特開2001-052994
特許番号:特許第3726578号
出願日: 1999年08月17日
公開日(公表日): 2001年02月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】半導体基板上に、ポリイミドを塗布する第1工程と、該ポリイミドを硬化させる第2工程と、該ポリイミド上にレジストを塗布する第3工程と、該レジストを硬化させる第4工程とを含む半導体装置の製造方法において、第2工程と第3工程の間に、カップリング剤で、硬化したポリイミドの表面を処理する第5工程を挿入することを特徴とする半導体装置の製造方法。
IPC (5件):
H01L 21/027
, G03F 7/075
, G03F 7/38
, H01L 21/306
, H01L 21/312
FI (5件):
H01L 21/30 563
, G03F 7/075 501
, G03F 7/38 501
, H01L 21/312 B
, H01L 21/306 D
引用特許:
出願人引用 (5件)
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特開平4-257239
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特開昭61-214433
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特開昭61-170738
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