特許
J-GLOBAL ID：201103033708875391
X線撮像装置およびX線撮像方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
阿部 琢磨
, 黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-006771
公開番号（公開出願番号）：特開2011-125668
出願日： 2010年01月15日
公開日（公表日）： 2011年06月30日
要約：
【課題】 装置を小型化し、かつ、被検知物によるX線の吸収効果を考慮した微分位相像または位相像を得ることが可能なX線撮像装置およびX線撮像方法を提供することを目的とする。【解決手段】 分割素子により分割されたX線を被検知物に透過させた際に生じるX線の位置変化量を測定する。この位置変化量は入射位置に応じて透過量が連続的に変化する第1の減衰素子によって計測することができる。この際に、X線の入射位置に応じて透過量が変化しない第2の減衰素子を用いて算出した透過率を利用する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
X線発生手段から発生したX線を空間的に分割する分割素子と、
前記分割素子により分割されたX線が入射する第1の減衰素子と、
前記分割素子により分割されたX線が入射し、かつ、前記第1の減衰素子と隣接して配置されている第2の減衰素子と、
前記第1の減衰素子と前記第2の減衰素子を透過したX線の強度を検出する検出手段と、を有し、
前記第1の減衰素子は、前記X線の入射位置に応じてX線の透過量が連続的に変化するように構成され、
前記第2の減衰素子は、前記X線の入射位置に応じて透過量が変化しないように構成されていることを特徴とするX線撮像装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B6/00 330Z
, A61B6/06 330
4C093AA01
, 4C093CA32
, 4C093EA02
, 4C093EA11
, 4C093EA12
, 4C093EB22
, 4C093EB24
, 4C093EB25
, 4C093FA13
, 4C093FA20
, 4C093FA27
, 4C093FA53
, 4C093FA55
, 4C093FB08
, 4C093FB09
, 4C093FD05
