特許

J-GLOBAL ID：200903025381730911

X線撮像装置、X線撮像方法、X線撮像装置の制御方法

発明者： 向出 大平 ,  高田 一広 ,  渡邉 壮俊
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-035629
公開番号（公開出願番号）：特開2009-240764
出願日： 2009年02月18日
公開日（公表日）： 2009年10月22日
要約：

【課題】 装置を簡便化し、かつ、軽元素に対しても誤差要因の少ない、実効原子番号を演算するX線撮像装置等を提供する。【解決手段】 X線を発生するX線発生手段101(400)と、被検知物104(403)を透過したX線を検出する検出手段105(405)を有する。演算手段106(406)は、検出手段105(405)により検出されたデータから被検知物104(403)によるX線位相量と被検知物104(403)のX線透過率を算出する。また、演算手段106(406)は、X線位相量から求めたρetと、X線透過率から求めたμtから被検知物の実効原子番号を演算する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

X線を発生するX線発生手段と、 前記X線発生手段から出射されたX線を空間的に分割するX線分割素子と、 前記X線分割素子により分割され、被検知物を透過したX線を検出する検出手段と、 前記検出手段により検出されたデータから、前記被検知物によるX線シフト量と、該被検知物のX線透過率を算出し、該X線シフト量から求めたρet(ρe:電子密度、t:被検知物の厚さ)と、該X線透過率から求めたμt(μ:線吸収係数)から該被検知物の実効原子番号を演算する演算手段とを有することを特徴とするX線撮像装置。

IPC (2件)：

A61B 6/00 ,  A61B 6/03

FI (5件)：

A61B6/00 330Z ,  A61B6/03 350T ,  A61B6/03 321D ,  A61B6/03 320H ,  A61B6/03 320M

Fターム (5件)：

4C093EA11 ,  4C093EA12 ,  4C093EB17 ,  4C093EC42 ,  4C093FE22

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 多色X線測定装置及び方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-273485   出願人：独立行政法人放射線医学総合研究所
• 爆発物探知装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-029935   出願人：株式会社日立製作所
• 爆発物等の探知方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-268174   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平4-084743
  

引用文献：

審査官引用 (2件)

• Phase-contrast and fluorescent X-ray imaging for biomedical researches
• Phase-contrast and fluorescent X-ray imaging of biomaterials