特許
J-GLOBAL ID:201103035238848069
レジスト剥離装置、及びレジスト剥離方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高田 守 (外2名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-251348
公開番号(公開出願番号):特開2002-064052
特許番号:特許第3344994号
出願日: 2000年08月22日
公開日(公表日): 2002年02月28日
請求項(抜粋):
【請求項1】 レジスト膜が形成された半導体基板が保持される第1の領域と、剥離液を蒸気化させる第2の領域とを有する処理槽と、前記処理槽が有する基板搬入口に形成された第1の開閉蓋と、前記第1の領域と、前記第2の領域とを開閉する第2の開閉蓋と、前記第2の領域に前記剥離液を供給する第1の供給配管と、前記第2の領域に供給された前記剥離液を加熱して蒸気化させる加熱部と、前記第1の領域内の前記蒸気化された剥離液を排気する第1の排気配管と、前記半導体基板から滴下する使用済みの剥離液を、前記第2の領域で回収する回収皿と、を備えることを特徴とするレジスト剥離装置。
IPC (3件):
H01L 21/027
, G03F 7/42
, H01L 21/306
FI (3件):
G03F 7/42
, H01L 21/30 572 B
, H01L 21/306 D
引用特許:
審査官引用 (2件)
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特開平4-348029
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半導体装置の製造装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-173045
出願人:キヤノン販売株式会社, 株式会社半導体プロセス研究所
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