特許

J-GLOBAL ID：201103035604592080

電子光学機器

発明者： 畑 浩一 ,  永井 滋一 ,  津野 勝重
出願人/特許権者： 国立大学法人三重大学
代理人 (1件)： 一色国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-041949
公開番号（公開出願番号）：特開2011-181223
出願日： 2010年02月26日
公開日（公表日）： 2011年09月15日
要約：

【課題】陰極軸方向(スピン偏極電子の進行方向)への磁気異方性を発現することができ、もってスピン偏極率の測定や磁性体試料の解析・表面分析などを効率よく行うことが可能な電子光学機器を提供すること。【解決手段】スピン偏極率の測定や磁性体試料の解析を効率よく行うことができる電子光学機器は、スピン偏極電子のスピンの向きを電子の進行方向を含む面内に回転させるスピン回転器と、前記スピン回転器を通過したスピン偏極電子ビームの電子エネルギーを選別するスリットと、を備え、前記スピン回転器は、電場・磁場重畳型の90°偏向器であり、前記スピン偏極電子のエネルギー分布を測定することができる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

スピン偏極電子のスピンの方向を電子の進行方向を含む面内に回転させるスピン回転器と、 前記スピン回転器を通過したスピン偏極電子のエネルギーを選別するスリットと、 を備え、 前記スピン回転器は、電場・磁場重畳型の90°偏向器であり、前記スピン偏極電子のエネルギー分布を測定できることを特徴とする電子光学機器。

IPC (6件)：

H01J 37/147 ,  H01J 37/29 ,  H01J 37/12 ,  H01J 37/252 ,  H01J 37/244 ,  H01J 37/153

FI (6件)：

H01J37/147 Z ,  H01J37/29 ,  H01J37/12 ,  H01J37/252 Z ,  H01J37/244 ,  H01J37/153

Fターム (4件)：

5C033CC01 ,  5C033NN10 ,  5C033NP08 ,  5C033RR10

引用特許：

審査官引用 (2件)

• スピン回転器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-045250   出願人：株式会社日立製作所
• ウィーンフィルタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-321980   出願人：日本電子株式会社