特許
J-GLOBAL ID：201103037283986904
光ディスク基板の複屈折の測定法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 曉司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-271622
公開番号（公開出願番号）：特開2000-081387
特許番号：特許第3760185号
出願日： 1999年09月27日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】成形後の光ディスク透明樹脂基板に、平行光ビームを基板に対し斜め方向から入射させ、その透過光に生じた位相差を測定して基板の複屈折を測定する方法であって、ある1点の測定点に対して、基板面に対する入射光の入射角θを一定としたまま、入射光ビームを含む入射面の方向を少なくとも直交する2方向にとってそれぞれの位相差を測定し、得られた各位相差から該1点の複屈折を測定することを特徴とする光ディスク基板の複屈折の測定法。
IPC (2件)：
G01N 21/23 ( 200 6.01)
, G11B 7/26 ( 200 6.01)
