特許
J-GLOBAL ID:201103037589715742
飛行時間型質量分析装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-319940
公開番号(公開出願番号):特開2001-143654
特許番号:特許第3683761号
出願日: 1999年11月10日
公開日(公表日): 2001年05月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】試料イオンを、閉じた軌道に沿って飛行させて質量分析する飛行時間型質量分析装置において、前記軌道上にイオントラップを配置したことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (2件):
FI (2件):
H01J 49/40
, G01N 27/62 K
引用特許:
出願人引用 (2件)
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飛行時間型質量分析計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-300257
出願人:日本電子株式会社
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飛行時間型質量分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-097114
出願人:櫻井達, 住友重機械工業株式会社
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