特許
J-GLOBAL ID:201103039250363319

超伝導イメージ検出器

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-394757
公開番号(公開出願番号):特開2002-196081
特許番号:特許第3543111号
出願日: 2000年12月26日
公開日(公表日): 2002年07月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】放射線の入射によってフォノンを発生する基板と、基板の領域の周囲に集積され、該フォノンの到達を検出する複数の超伝導トンネル接合と、各超伝導トンネル接合の上に超伝導トンネル接合と電磁的に結合された、異なるマイクロストリップコイルとを集積した構造であって、 複数のマイクロストリップコイルに流れる電流をそれぞれ調整することにより、対応する超伝導トンネル接合に印加する磁場を調整し、かつ各超伝導トンネル接合の電圧信号をそれぞれ取り出し、取り出された複数の電圧信号に基づいて基板に入射される放射線の入射位置及びエネルギーを検出することを特徴とする超伝導イメージ検出器。
IPC (5件):
G01T 1/24 ,  G01J 1/02 ,  G01T 1/29 ,  G01T 1/36 ,  H01L 39/22
FI (5件):
G01T 1/24 ZAA ,  G01J 1/02 R ,  G01T 1/29 C ,  G01T 1/36 D ,  H01L 39/22 ZAA D
引用特許:
審査官引用 (2件)

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