特許
J-GLOBAL ID:201103040084813627

微量分析方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山崎 行造
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-527355
特許番号:特許第4271371号
出願日: 1999年01月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】 サンプルコレクションから特定された特性を有するサンプルを選択する方法であって、 2つの平行な平坦面と、親水性材料でできた内層部と、該内層部の両側にある疎水性材料でできた2層の外層部と、該平坦面に垂直に配置された、アドレスを用いてアクセス可能な複数の貫通孔と、を有するプラテンを用意する段階と、 該貫通孔の少なくとも1つに液状の第1サンプルを装入する段階と、 該第1サンプルを表面張力により保持する段階と、 該第1サンプルと第2サンプルとの間で反応を起こさせるために、該少なくとも1つの貫通孔に第2サンプルを加える段階と、 該特定された特性に関して該貫通孔内の反応を特徴づける段階と、 から成るサンプル選択方法。
IPC (1件):
G01N 21/03 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 21/03 Z
引用特許:
審査官引用 (4件)
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