特許
J-GLOBAL ID：201103040408307509

光サンプリング波形測定方法及び光サンプリング波形測定装置

発明者：
白根 昌之

白根 昌之 について

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横山 弘之

横山 弘之 について

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山田 博仁

山田 博仁 について

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栗田 寿一

栗田 寿一 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 西村 征生
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-003036
公開番号（公開出願番号）：特開2001-194241
特許番号：特許第3470669号
出願日： 2000年01月11日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 測定すべき被測定光と、該被測定光のパルス幅より十分狭いパルス幅を有するサンプリング光とを非線形光学材料に入射し、該非線形光学材料から出射された前記被測定光と前記サンプリング光との強度相互相関光に基づいて、前記被測定光の波形を測定する光サンプリング波形測定方法であって、前記被測定光から前記被測定光と同期した光クロックを抽出する第1の処理と、前記光クロックを光電変換して得られた電気信号の周波数と常に一定の周波数差となる周波数を有する駆動信号を生成する第2の処理と、前記駆動信号に基づいて、前記被測定光の繰り返し周波数と常に一定の繰り返し周波数差となる繰り返し周波数を有するサンプリング光を生成する第3の処理とを有し、かつ、前記第2の処理では、前記電気信号を分周して得られたオフセット信号と、前記電気信号と前記駆動信号とを混合して得られた差信号との位相差に基づいて、前記駆動信号を生成することを特徴とする光サンプリング波形測定方法。
IPC (3件)：
G01J 11/00 ,  G02F 1/35 ,  H01S 5/065
FI (3件)：
G01J 11/00 ,  G02F 1/35 ,  H01S 5/065
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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