特許
J-GLOBAL ID：201103040551267054

核酸塩基配列決定装置および検査システム

発明者：
平田 智嗣

平田 智嗣 について

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光山 訓

光山 訓 について

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松尾 仁司

松尾 仁司 について

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福薗 真一

福薗 真一 について

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鈴木 博之

鈴木 博之 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-245516
公開番号（公開出願番号）：特開2002-055080
特許番号：特許第4103315号
出願日： 2000年08月08日
公開日（公表日）： 2002年02月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 蛍光体標識した核酸断片を塩基長に応じて分離する手段と、 前記蛍光体標識した核酸断片から生じる蛍光を蛍光強度波形データとして検出する検出手段と、 複数の既知塩基配列の複数の蛍光強度波形データセットの各々について、最大の蛍光強度を有する塩基種の信号強度により全てのピーク位置での正規化処理を行い、前記全てのピーク位置での信号値の平均値及び標準偏差を対応する塩基毎に算出し統計処理情報として格納するデータ格納手段と、 前記検出する手段が検出した前記蛍光強度波形データと前記データ格納手段に格納された前記統計処理情報とを比較する蛍光強度波形データ比較手段と、 前記蛍光強度波形データ比較手段の比較結果に応じて前記蛍光体標識した核酸断片の塩基配列を判定する塩基配列判定手段とを有することを特徴とする核酸塩基配列決定装置。
IPC (8件)：
G01N 27/447 ( 200 6.01) ,  C12M 1/00 ( 200 6.01) ,  C12M 1/34 ( 200 6.01) ,  C12Q 1/68 ( 200 6.01) ,  G01N 21/64 ( 200 6.01) ,  G01N 21/78 ( 200 6.01) ,  G01N 33/50 ( 200 6.01) ,  C12N 15/09 ( 200 6.01)
FI (9件)：
G01N 27/26 325 E ,  G01N 27/26 325 D ,  C12M 1/00 A ,  C12M 1/34 Z ,  C12Q 1/68 Z ,  G01N 21/64 F ,  G01N 21/78 C ,  G01N 33/50 P ,  C12N 15/00 A
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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