イオン付着質量分析の方法および装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：田宮寛祉
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-401483
公開番号（公開出願番号）：特開2002-203509
特許番号：特許第4596641号
出願日： 2000年12月28日
公開日（公表日）： 2002年07月19日
請求項（抜粋）：

【請求項1】イオン化室に導入された被検出ガスに対して第三体ガスの雰囲気でイオン放出体から放出された正電荷の金属イオンを付着させ、前記被検出ガスを前記金属イオンでイオン化した後に質量分析器により質量分析の測定を行うイオン付着質量分析方法において、異なる前記第三体ガスに基づいて複数の前記測定を行い、これらの測定で得られたデータから前記第三体ガスに起因する干渉ピークを区別することを特徴とするイオン付着質量分析方法。

IPC (3件)：