特許
J-GLOBAL ID：201103042498254401

周波数測定回路

発明者：
大石 和明

大石 和明 について

, 
石田 秀樹

石田 秀樹 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (2件)： 土井 健二 ,  林 恒徳
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-299986
公開番号（公開出願番号）：特開2001-119291
特許番号：特許第3691310号
出願日： 1999年10月21日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】入力信号の周波数を測定する周波数測定回路において、 前記入力信号の所定波数を有する第1のカウント期間において、基準クロックをカウントする第1の周波数測定ユニットと、 前記入力信号の所定波数を有する第2のカウント期間において、基準クロックをカウントする第2の周波数測定ユニットと、 前記第1及び第2の周波数測定ユニットのカウント数を加算する加算器とを有し、 前記第1及び第2のカウント期間が互いにシフトして重なっていて、前期第1及び第2の周波数測定ユニットは、前記入力信号の所定波数をカウントして前記カウント期間においてセレクト信号を生成するセレクト信号生成回路と、前記セレクト信号に応答して前記基準クロックの供給を許可するセレクト回路と、前記セレクト回路から供給される基準クロックをカウントする基準クロック波数測定回路とを有することを特徴とする周波数測定回路。
IPC (2件)：
H03K 21/02 ,  G01R 23/10
FI (2件)：
H03K 21/02 D ,  G01R 23/10 B
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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