特許
J-GLOBAL ID：201103042676025950
粒子測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西野 卓嗣
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-371503
公開番号（公開出願番号）：特開2003-172686
特許番号：特許第4212803号
出願日： 2001年12月05日
公開日（公表日）： 2003年06月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検出用の貫通孔を通過する粒子含有液のインピーダンスの変化を検出するために貫通孔の両側に第1および第2電極を備えた粒子検出器と、第1および第2電極間に通電するための電流供給回路と、第1および第2電極間に電流が流れたときに両電極間に生じる電圧を増幅して出力する増幅回路と、電流供給回路と増幅回路とに正電圧印加用配線と負電圧印加用配線を介して回路駆動電圧を印加する直流電源回路と、粒子検出器を収容する導体ケースとを備え、電流供給回路、増幅回路および直流電源回路が導体ケース外部に設置され、導体ケースは互いに絶縁した外側導体ケースと内側導体ケースからなり、外側導体ケースは接地され、内側導体ケースは前記負電圧印加用配線に電気的に接続されてなる粒子測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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