特許

J-GLOBAL ID：201103043682689590

周波数偏差測定方法及び周波数偏差測定装置

発明者： 田内 正治
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 内藤 照雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-240359
公開番号（公開出願番号）：特開2001-066333
特許番号：特許第3846531号
出願日： 1999年08月26日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 入力された測定対象の変調信号を周波数スペクトル解析手段により上記変調信号の大まかな周波数を求め、 上記大まかな周波数を予め定められている上・下限値と比較し、その結果に基づき予め定められている同期検波周波数を決定し、 上記同期検波周波数と基準周波数との差を求め、 上記同期検波周波数を使用して同期検波することによりI信号とQ信号を求め、 上記I成分とQ成分より位相軌跡法により周波数偏差を求め、 上記周波数偏差と上記差を加算して最終的な周波数偏差値を求めることを特徴とする周波数偏差測定方法。

IPC (4件)：

G01R 23/16 ( 200 6.01) ,  G01R 23/173 ( 200 6.01) ,  H03J 7/02 ( 200 6.01) ,  H04L 27/00 ( 200 6.01)

FI (6件)：

G01R 23/16 C ,  G01R 23/16 B ,  G01R 23/173 H ,  G01R 23/173 E ,  H03J 7/02 ,  H04L 27/00 A

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 周波数偏差測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-087490   出願人：安藤電気株式会社

審査官引用 (1件)

• 周波数偏差測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-087490   出願人：安藤電気株式会社