特許

J-GLOBAL ID：201103044800441294

改良型電子部品ハンドラー試験プレート

発明者： ボー,ジェラルド,エフ.
出願人/特許権者： エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド
代理人 (3件)： 森 哲也 ,  田中 秀▲てつ▼ ,  廣瀬 一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-534152
公開番号（公開出願番号）：特表2011-503619
出願日： 2008年11月13日
公開日（公表日）： 2011年01月27日
要約：

改良型電子部品ハンドラーおよびそれに関連する改良型試験プレートについて説明する。試験プレート上に設けられたガイドを用いて、試験用孔と交差させることによって、部品装填フレームと孔との位置合わせ不良を排除し、部品の試験孔への容易な挿入が確実に行われる。

請求項（抜粋）：

電子部品を軸方向に受け入れるために、装填進路面と隣接して係合する電子部品試験プレートであって、 上面および底面が、厚みと、電子部品を軸方向に孔へと部分的に受け入れる部品試験孔と、を画定し、 前記試験プレートの前記上面上に位置するガイドが、前記部品を軸方向に前記孔へと案内するために、前記孔と連通する、ことを特徴とする電子部品試験プレート。

IPC (1件)：

G01R 31/26

FI (1件)：

G01R31/26 G

Fターム (2件)：

2G003AG11 ,  2G003AG16

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-116673
  
• 電気回路部品ハンドラー
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-519149   出願人：エレクトロ・サイエンティフィック・インダストリーズ・インコーポレーテッド
• 特開昭49-115664