特許
J-GLOBAL ID:201103044948033284
光干渉断層装置、方法、およびシステム
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
宮崎 昭夫
, 石橋 政幸
, 緒方 雅昭
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-501911
公開番号(公開出願番号):特表2011-515194
出願日: 2009年03月17日
公開日(公表日): 2011年05月19日
要約:
本発明の一態様によれば、光干渉断層装置は、使用者の少なくとも1つの眼を受け入れるアイピースと、アイピースを通して使用者の眼に入るように向けられている光を出力する光源と、使用者の眼から反射した光を使用して光干渉を発生させるように構成されている干渉計と、光干渉を検出するように配置されている光検出器と、検出器に結合されている電子装置とを有している。干渉計を利用して得られた光干渉断層計測値に基づいて危険性評価を実施するように電子装置は構成可能である。出力装置を電子装置に電気的に結合することが可能で、危険性評価を使用者に出力するように構成することができる。光干渉断層装置は、自己管理可能であって、アイピースは単眼装置または両眼装置とすることができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
使用者の少なくとも1つの眼を受け入れるアイピースと、
前記アイピースを通して前記使用者の眼に入るように向けられている光を出力する光源と、
前記使用者の眼から反射した光を使用して光干渉を発生させるように構成されている干渉計と、
前記光干渉を検出するように配置されている光検出器と、
前記光検出器に結合されており、前記干渉計を使用して得られた光干渉断層計測値に基づいて危険性評価の分析を実施するように構成されている電子装置と、
前記電子装置に電気的に結合されており、前記危険性評価を前記使用者に出力するように構成されている出力装置と、
を有する光干渉断層装置。
IPC (3件):
A61B 3/10
, A61B 3/028
, G01N 21/17
FI (3件):
A61B3/10 R
, A61B3/02 A
, G01N21/17 620
Fターム (17件):
2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059PP04
, 2G059PP06
引用特許:
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