特許
J-GLOBAL ID：201103045260112497
回転子検査装置及び回転子検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
青木 篤
, 鶴田 準一
, 伊坪 公一
, 河野 努
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-139318
公開番号（公開出願番号）：特開2010-286312
出願日： 2009年06月10日
公開日（公表日）： 2010年12月24日
要約：
【課題】回転子の良否を判定するだけでなく、回転子が不良品である場合の不良原因及び不良箇所を特定するすることが可能な回転子検査装置及び回転子検査方法を提供する。【解決手段】回転子検査装置1は、回転子2に設けられた複数のセグメントのうちの二つのセグメント間に印加する周波数可変な交流信号を出力する周波数可変発振器11と、交流信号が印加された二つのセグメント間の電圧または電流を測定する計測部13と、交流信号の周波数を変更しつつ測定された二つのセグメント間の電圧または電流から少なくとも一つの特性値を算出する特性値算出部32と、少なくとも一つの特性値が予め求められた回転子の不良品に対応する少なくとも一つの不良品条件の何れかを満たす場合、回転子は不良品であり、かつ、回転子の不良原因及び不良箇所を、その不良品条件に関連付けられた不良原因及び不良箇所として特定する判定部33とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
コイル(23-1〜23-6)及びコンミテータ(24-1〜24-6)を有するセグメント(22-1〜22-6)が回転軸(21)の周りに複数設けられた回転子(2)の検査装置であって、
前記複数のセグメントのうちの二つのセグメント間に印加する周波数可変な交流信号を出力する周波数可変発振器(11)と、
前記交流信号が印加された二つのセグメント間の電圧または電流を測定する計測部(13)と、
前記交流信号の周波数を変更しつつ測定された前記二つのセグメント間の電圧または電流から少なくとも一つの特性値を算出する特性値算出部(32)と、
前記少なくとも一つの特性値が予め求められた回転子の不良品に対応する少なくとも一つの不良品条件の何れかを満たす場合、前記回転子は不良品であり、かつ、前記回転子の不良原因及び不良箇所を、当該不良品条件に関連付けられた不良原因及び不良箇所として特定し、一方、前記少なくとも一つの特性値が何れの前記不良品条件も満たさない場合、前記回転子は良品であると判定する判定部(33)と、
を有することを特徴とする回転子検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (17件)：
2G014AA02
, 2G014AA03
, 2G014AB06
, 2G014AB49
, 2G014AC15
, 2G016BA02
, 2G016BA04
, 2G016BB01
, 2G016BB02
, 2G016BB06
, 2G016BC06
, 2G016BD06
, 2G016BD07
, 2G016BD09
, 2G016BD10
, 2G016BD11
, 2G016BD13
