特許
J-GLOBAL ID：201103045267425059
感温磁性体を用いた温度計測システム及び温度計測方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 典輝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-173062
公開番号（公開出願番号）：特開2011-027527
出願日： 2009年07月24日
公開日（公表日）： 2011年02月10日
要約：
【課題】感温磁性体が配置された被計測部が磁気センサや磁場発生源に対して相対的に移動する場合であっても、ワイヤレスで離れた位置から被計測部の温度を計測できる温度計測システムを提供する。【解決手段】被計測部に配置される、任意のキュリー点を有する感温磁性体と、被計測部から離れた場所で磁場を発生させる磁場発生源と、感温磁性体の温度に依存して変化する磁場の磁束ベクトルを検知する、複数の磁気センサと、を備えており、複数の磁気センサは、感温磁性体と磁場発生源との間に備えられるとともに、計測時には磁場発生源との相対的な位置および姿勢が固定されており、複数の磁気センサによって、少なくとも2軸方向で磁束ベクトルの変化を検知することができる、温度計測システムとする。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
被計測部に配置される、任意のキュリー点を有する感温磁性体と、
前記被計測部から離れた場所で磁場を発生させる磁場発生源と、
前記感温磁性体の温度に依存して変化する前記磁場の磁束ベクトルを検知する、複数の磁気センサと、を備えており、
前記複数の磁気センサは、前記感温磁性体と前記磁場発生源との間に備えられるとともに、計測時には前記磁場発生源との相対的な位置および姿勢が固定されており、
前記複数の磁気センサによって、少なくとも2軸方向で前記磁束ベクトルの変化を検知することができる、温度計測システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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