特許
J-GLOBAL ID：201103046061896256
分析器のハードウェア構成
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
青木 篤
, 鶴田 準一
, 島田 哲郎
, 伊藤 健太郎
, 廣瀬 繁樹
, 西村 隆一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-045053
公開番号（公開出願番号）：特開2011-185930
出願日： 2011年03月02日
公開日（公表日）： 2011年09月22日
要約：
【課題】各モジュールの優れた配置構成を有する分析装置を提供する。【解決手段】分析されるべきサンプルを受容して供与する少なくともひとつのモジュールと、分析されるべき分析対象物を単離する少なくともひとつのモジュールと、上記分析対象物を分析する少なくともひとつのモジュールであって、上記モジュール(i)〜(iii)はひとつの軸心に沿い配置される、少なくともひとつのモジュールとを具備する、少なくとも一種類の分析対象物を単離かつ分析する分析装置及び方法が記述される。【選択図】図52
請求項（抜粋）：
(i)分析されるべきサンプルを受容して供与する少なくともひとつのモジュールと、
(ii)分析されるべき前記分析対象物を単離する少なくともひとつのモジュールと、
(iii)前記分析対象物を分析する少なくともひとつのモジュールであって、前記モジュール(i)〜(iii)がひとつの軸心に沿い配置され、且つ、前記各モジュールが隣り合うモジュールに対して固定される少なくともひとつのモジュールと、
(iv)消耗品を移送する少なくともひとつの搬送モジュールであって、該少なくともひとつの搬送モジュールが、前記モジュール(i)〜(iii)の正面において前記軸心に対して平行に配置される少なくともひとつの搬送モジュールと、
(v)少なくともひとつの消耗品ホルダであって、該少なくともひとつの消耗品ホルダが前記モジュール(i)〜(iii)の正面において前記軸心に沿い配置される少なくともひとつの消耗品ホルダとを具備する、
少なくとも一種類の分析対象物を単離かつ分析する分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
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