特許
J-GLOBAL ID:200903021611531314

モジュラー装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  島田 哲郎 ,  篠崎 正海 ,  西山 雅也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-098682
公開番号(公開出願番号):特開2005-292138
出願日: 2005年03月30日
公開日(公表日): 2005年10月20日
要約:
【課題】 迅速にかつ確実に組み立て可能な新しい装置を開示する。【解決手段】 装置は、移送モジュールと、移送モジュールに堅固に結合された少なくとも二つの支持モジュールと、移送モジュールと堅固に結合されて移送モジュールを支持する少なくとも二つのキャリヤ要素とを具備する。装置は、作業領域上の単位品への移送道具の正確なアクセスを必要とする多段階分析工程を実施することに特に有用である。【選択図】 図2e
請求項(抜粋):
多段階分析工程を実施するための装置であって: 単位品を前記装置の一つの位置から前記装置の他の位置に移送するように構築された移送モジュールと; 前記移送モジュールの底に堅固に結合された少なくとも二つの支持モジュールであって、分析を受けるべき単位品を保持するように適合された道具と、分析に必要な手段とを具備する少なくとも二つの支持モジュールと; 前記支持モジュールを取り外し可能に支持するように構築されて、前記移送モジュールと堅固に結合された少なくとも二つのキャリヤ要素であって、前記移送モジュールを支える少なくとも二つのキャリヤ要素と;を具備する多段階分析工程を実施するための装置において、 前記支持モジュールと前記移送モジュールとが、前記支持モジュールを前記移送モジュールに対して正確に位置決めするための対応する一体係合要素を具備することを特徴とする、多段階分析工程を実施するための装置。
IPC (1件):
G01N35/02
FI (1件):
G01N35/02 Z
Fターム (2件):
2G058CB00 ,  2G058CD00
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 欧州特許出願公開第1032839号明細書
  • 欧州特許出願公開第990906号明細書
  • 欧州特許出願公開第200362号明細書
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審査官引用 (4件)
  • 検体ラック取扱装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-111787   出願人:株式会社日立製作所
  • 特開昭60-115867
  • 特開昭60-188849
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