特許
J-GLOBAL ID:201103047895197521
デュアルビットメモリ消去検証のための方法およびシステム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (7件):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
, 荒川 伸夫
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-544726
特許番号:特許第4601250号
出願日: 2001年08月07日
請求項(抜粋):
【請求項1】 デュアルビットメモリセルの消去を検証する方法(22)であって、
デュアルビットメモリセルの第1のビットが正しく消去されているかどうかの判断(26、28)を行なうステップと、
第1のビットが正しく消去されている場合、デュアルビットメモリセルの第2のビットが正しく消去されているかどうかの第1の検証(30、32)を行なうステップと、
第1のビットが正しく消去され、かつ第2のビットが第1の検証に従って正しく消去されている場合、デュアルビットメモリセルが正しく消去されていると判断するステップとを備える、方法。
IPC (2件):
G11C 16/02 ( 200 6.01)
, G11C 16/04 ( 200 6.01)
FI (3件):
G11C 17/00 612 B
, G11C 17/00 621 Z
, G11C 17/00 641
引用特許:
出願人引用 (1件)
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不揮発性メモリ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-112246
出願人:富士通株式会社
審査官引用 (1件)
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不揮発性メモリ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-112246
出願人:富士通株式会社
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