特許
J-GLOBAL ID:201103047919548070
基板処理装置および半導体装置の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
,
代理人 (2件):
小林 茂
, 和泉 良彦
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-211952
公開番号(公開出願番号):特開2003-031515
特許番号:特許第4509433号
出願日: 2001年07月12日
公開日(公表日): 2003年01月31日
請求項(抜粋):
【請求項1】 基板加熱用の主ヒータが外側に設けられ、該主ヒータにより反応室内の基板処理領域にあるボートに保持された複数の基板を加熱処理する基板処理装置において、
前記反応室内に設けられ、原料が載置される原料昇華部と、
前記反応室内の前記原料昇華部の近傍に設けられ、前記原料を加熱し、昇華させる昇華用ヒータと、
前記反応室内の前記原料昇華部と前記基板処理領域との間に設けられる断熱部と、
前記反応室内の前記断熱部の外周に位置する、前記原料昇華部と前記基板処理領域と連通させる連通部と、
を備えることを特徴とする基板処理装置。
IPC (2件):
H01L 21/225 ( 200 6.01)
, H01L 21/22 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01L 21/225 D
, H01L 21/22 511 Q
引用特許:
出願人引用 (4件)
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特公昭35-001578
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特開昭60-020510
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薄膜形成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-145555
出願人:日本電気株式会社
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特開平2-010721
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審査官引用 (4件)
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特公昭35-001578
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特開昭60-020510
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薄膜形成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-145555
出願人:日本電気株式会社
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