特許
J-GLOBAL ID：201103048390752861
特性測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
畝本 正一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-184168
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013087
特許番号：特許第4194179号
出願日： 1999年06月29日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 電磁波を通過させる単一又は複数のマイクロストリップラインからなる伝送線路を備え、被測定物に前記伝送線路を近接させたセンサと、
このセンサに1又は2以上の電磁波を入力する電磁波発生源と、
この電磁波発生源から前記センサに加えられる入力電磁波と、前記センサを通して得られる出力電磁波とから前記被測定物による電磁波損失を検出する損失検出手段と、
この損失検出手段で得た前記電磁波損失から前記被測定物の特性を演算する演算手段とを備え、
前記センサに前記電磁波の周波数に適した伝送線路を備えて前記センサから取り出される前記電磁波の周波数に応じて前記伝送線路を切り換える切換手段を備え、
前記伝送線路に周波数の異なる電磁波を通過させることにより前記センサを前記被測定物の含水率センサ又はイオン含有率センサとして機能させたことを特徴とする特性測定装置。
IPC (2件)：
G01N 22/00 ( 200 6.01)
, G01N 22/04 ( 200 6.01)
G01N 22/00 U
, G01N 22/00 K
, G01N 22/04 Z
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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