質量分析方法および質量分析装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：高田幸彦 , 竹ノ内勝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-047064
公開番号（公開出願番号）：特開2001-311720
特許番号：特許第3663140号
出願日： 2001年02月22日
公開日（公表日）： 2001年11月09日
請求項（抜粋）：

【請求項1】試料をイオン化して質量分析を行い、質量数毎のイオン量を測定する質量分析方法において、測定すべき元素を第1の測定対象として設定するステップと、予め記憶された元素の同位体情報を用いて前記設定された第1の測定対象に干渉する元素を検索するステップと、当該検索により干渉する元素が存在する場合、当該干渉元素の同位体の中から第2の測定対象を選択するステップと、前記第1の測定対象と第2の測定対象の測定を行うステップと、前記第2の測定対象のイオン量測定結果を用いて前記第1の測定対象のイオン量を算出するステップを有することを特徴とする質量分析方法。

IPC (1件)：