X線位相差撮影装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：畑泰之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-202094
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356603
特許番号：特許第3422289号
出願日： 1999年06月14日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 X線源と、被評価試料を透過した前記X線を入射せしめる第1の一対の分光結晶対と、前記X線を入射せしめる第2の一対の分光結晶対と、前記X線源と前記第1の一対の分光結晶対との間に設けた二つの2結晶分光器とからなり、前記第1の一対の分光結晶対と第2の一対の分光結晶対とは非対称反射効果を有し、且つ、第1の一対の分光結晶対による拡大方向と第2の一対の分光結晶対の拡大方向とが直交するように、前記分光結晶対を配置すると共に、前記二つの2結晶分光器で、前記X線源のX線を単色化せしめたことを特徴とするX線位相差撮影装置。

IPC (1件)：