特許
J-GLOBAL ID:201103052057136646

碍子汚損検出装置及び碍子汚損検出システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 石田 敬 ,  土屋 繁 ,  西山 雅也
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-041630
公開番号(公開出願番号):特開2001-231119
特許番号:特許第3935301号
出願日: 2000年02月18日
公開日(公表日): 2001年08月24日
請求項(抜粋):
【請求項1】 碍子の漏れ電流を検出する変流器と、この変流器の出力側に接続され、出力信号を光信号に変換する変換素子と、この変換素子に直流バイアス電流を供給し、前記変換素子を低インピーダンス化する手段とを有する検出変流器と、 前記光信号に基づいて碍子の汚損の有無を検出する検出装置本体と、 前記光信号を前記検出変流器から前記検出装置本体へ伝達する光ファイバと、を具備する碍子汚損検出装置において、 前記検出装置本体は、前記伝達された光信号から、前記直流バイアス電流に対応する直流成分と前記漏れ電流に対応する交流成分を分離する手段(13)と、 前記直流成分と前記交流成分の比を計算する手段(31,34)と、 前記交流成分の波高値と実効値を求める手段(16,19)と、 これら波高値と実効値の比を計算する手段(35)と、 碍子の汚損度に対応した汚損度管理値とクレストファクタ管理値を記憶する手段(33)と、 前記直流成分と交流成分の比に基づいて前記碍子の漏れ電流値を計算し、前記汚損度管理値と比較することにより前記碍子の汚損度を判定し、前記波高値と実行値の比と前記クレストファクタ管理値とを比較することにより前記碍子の汚損度を判定する手段(32)を具備する碍子汚損検出装置。
IPC (4件):
H02G 1/02 ( 200 6.01) ,  G01N 27/00 ( 200 6.01) ,  G01R 31/00 ( 200 6.01) ,  G01R 31/02 ( 200 6.01)
FI (5件):
H02G 1/02 323 A ,  H02G 1/02 323 L ,  G01N 27/00 Z ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/02
引用特許:
出願人引用 (8件)
  • 碍子の汚損検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-106660   出願人:日新電機株式会社
  • 電圧検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-068137   出願人:日新電機株式会社
  • 碍子の塩害検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-320208   出願人:日新電機株式会社
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審査官引用 (5件)
  • 碍子の汚損検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-106660   出願人:日新電機株式会社
  • 電圧検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-068137   出願人:日新電機株式会社
  • 碍子の塩害検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-320208   出願人:日新電機株式会社
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