特許
J-GLOBAL ID：201103052204116290
位相差観察装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井上 義雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-154060
公開番号（公開出願番号）：特開2000-347105
特許番号：特許第4370636号
出願日： 1999年06月01日
公開日（公表日）： 2000年12月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光源と、
前記光源からの光束を被検物体に照射するための照明光学系と、
開口絞りと、
前記被検物体からの光束を集光して像を形成する対物レンズと、
前記開口絞りと共役な前記対物レンズ内の位置に設けられている位相変換部とを有する位相差観察装置において、
前記位相変換部は、前記開口絞りの開口部と所定倍率で相似な形状を有する第1透過率変調部と、
前記第1透過率変調部の周囲を取り囲むように設けられている第2透過率変調部とを有し、
前記第2透過率変調部の透過率は、前記第1透過率変調部の透過率よりも大きく、
前記第2透過率変調部の波長400nmにおける透過率をT400、
前記第2透過率変調部の波長550nmにおける透過率をT550、
前記第2透過率変調部の波長700nmにおける透過率をT700とそれぞれしたとき、
T400<T550<T700
の条件を満足することを特徴とする位相差観察装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (3件)
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落射蛍光顕微鏡
公報種別：公開公報
出願番号：特願平7-338963
出願人：オリンパス光学工業株式会社
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位置検出装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-319919
出願人：オリンパス光学工業株式会社
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光制御部材を有する光学顕微鏡
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-247778
出願人：オリンパス光学工業株式会社
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