特許
J-GLOBAL ID：201103055128600216

調整可能な選択性および分解能を有する真空駆動微分型移動度分析計/質量分析計のための方法およびシステム

発明者：
シュナイダー, ブラッドレイ

シュナイダー, ブラッドレイ について

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コービー, トーマス

コービー, トーマス について

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ナザロフ, エルキンジョン

ナザロフ, エルキンジョン について


出願人/特許権者：
ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド

ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド について


代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-510791
公開番号（公開出願番号）：特表2011-522363
出願日： 2009年05月28日
公開日（公表日）： 2011年07月28日
要約：
微分型移動度分析計と、少なくとも部分的に微分型移動度分析計にシールされ、かつ微分型移動度分析計と流体連絡している質量分析計とを含む、質量分析計システムを、関連方法とともに提供する。質量分析計システムは、a)内部動作圧力で微分型移動度分析計を維持するステップと、b)イオンを微分型移動度分析計に提供するステップと、c)微分型移動度分析計を通って真空チャンバの中へイオンを含むガス流を引き込むために、内部動作圧力よりも低い真空圧で質量分析計を維持するステップと、d)微分型移動度分析計を通るガス流速を変化させるために、微分型移動度分析計と質量分析計との間のガス流を修正するステップとを行うように動作可能となり得、方法はこれらのステップを含み得る。
請求項（抜粋）：
イオン源からイオンを受容するための微分型移動度分析計であって、内部動作圧力と、電極と、DCおよびRF電圧を該電極に提供するための少なくとも1つの電圧源とを有する、微分型移動度分析計と、 該微分型移動度分析計から該イオンを受容するために、少なくとも部分的に該微分型移動度分析計にシールされ、かつ該微分型移動度分析計と流体連絡している、質量分析計と、 真空チャンバであって、該真空チャンバは、該微分型移動度分析計を通って該真空チャンバの中へと該イオンを含むガス流を引き込むように動作可能であるように、該内部動作圧力よりも低い真空圧で該質量分析計を維持するために該質量分析計を包囲する、真空チャンバと、 該微分型移動度分析計を通るガス流速を修正するためのガスポートであって、該微分型移動度分析計と該質量分析計との間に位置する、ガスポートと を備えている、質量分析計システム。
IPC (3件)：
H01J 49/40 ,  H01J 49/26 ,  G01N 27/62
FI (3件)：
H01J49/40 ,  H01J49/26 ,  G01N27/62 E
Fターム (7件)：
2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041GA14 ,  2G041GA23 ,  5C038HH03 ,  5C038HH28 ,  5C038HH30
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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