特許
J-GLOBAL ID：201103055318384897
磁界プローブ校正機能を有する近傍磁界測定装置および電磁波発生源探査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三品 岩男
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-016243
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214198
特許番号：特許第3689578号
出願日： 1999年01月25日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 x軸及び該x軸に直交するy軸からなるxy平面に被測定対象を搭載する台座と、前記x軸及び前記y軸に直交するz軸に沿って前記台座に対向するように磁界プローブを保持する保持部と、前記磁界プローブを被測定対象の近傍にて前記x軸、前記y軸、並びに前記z軸沿いに移動させるための移動部と、前記磁界プローブの出力から磁界強度を検出する磁界検出部と、前記磁界プローブの指向性が最大となる方向を検出すべき磁界の方向に合わせるための校正をおこなう校正部とを有し、 前記校正部は、前記台座に対する前記磁界プローブの向きを変化させるために、前記保持部を変位させるプローブ変位部と、予め定めた方向に校正用磁界を発生する校正用磁界発生部と、前記プローブ変位部の動作を制御する制御部とを備え、 前記プローブ変位部は、前記保持部を軸に前記磁界プローブを回転させ、該磁界プローブを該保持部とともに前記xy平面内で回転させ、又は該保持部を前記z軸に対して傾斜させて、該磁界プローブの前記台座に対する向きを変え、 前記制御部は、前記プローブ変位部により前記校正用磁界内における前記磁界プローブの向きを変化させ、そのときに該磁界プローブから前記磁界検出部を通して検出される磁界強度から前記磁界プローブの指向性の向きを検出する ことを特徴とする近傍磁界測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 29/08 D
, G01R 33/02 A
