特許
J-GLOBAL ID:201103055824266746

電子部品吸着装置及びこれを備えた電子部品の試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 林 恒徳 ,  土井 健二
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-350504
公開番号(公開出願番号):特開2003-145471
特許番号:特許第3717834号
出願日: 2001年11月15日
公開日(公表日): 2003年05月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】先端に開口部を有し、負圧が付与された時に電子部品を吸着する吸着ヘッドと、孔部を備え、前記吸着ヘッドの開口部を通して給排気される気体を貫通させる導管部及び、先端部に前記吸着ヘッドに挿入される押さえ部を有する押さえ中心棒と、前記吸着ヘッドと前記押さえ中心棒相互間に反発力を与えるコイルスプリングと、前記吸着ヘッドと前記押さえ中心棒間に配置されるリンクレバーを有し、前記押さえ中心棒にコイルスプリングの前記反発力に抗して押し下げる力を与える時、前記リンクレバーにより前記吸着ヘッドを上方に押し上げて、前記押さえ中心棒の押さえ部を前記吸着ヘッドから突き出させる様に構成されたことを特徴とする吸着装置。
IPC (2件):
B25J 15/06 ,  G01R 31/02
FI (3件):
B25J 15/06 D ,  B25J 15/06 M ,  G01R 31/02
引用特許:
出願人引用 (8件)
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