特許
J-GLOBAL ID：201103056024508411
半導体試験装置用パターンデータのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパターン圧縮・伸張装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 喜平
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-010893
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206211
特許番号：特許第4294139号
出願日： 1999年01月19日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 半導体デバイスを試験するために、テストパターンデータをホストコンピュータの記憶装置から、半導体試験装置内のパターンメモリに転送するために用いるコンプレッション・デコンプレッション方法において、
その記憶装置内のテストパターンファイルからベクタデータを抽出するステップと、
そのベクタデータを、第1グループは繰り返し頻度の高いデータであり、第2グループは繰り返し頻度の中間のデータであり、第3グループは第1グループや第2グループより繰り返し頻度の低いデータである、3つのグループに分類するステップと、
上記第1グループと第2グループのデータを、データ繰り返し率の順に、それぞれショートコードとロングコードに変換し、上記第3グループのデータをエスケープコードにより定義して、その第3グループのベクタデータをエスケープコードに付加するステップと、
上記第1グループのベクタデータと上記ショートコード、上記第2グループのベクタデータと上記ロングコードとの関係を示す翻訳テーブルを形成するステップと、
上記ショートコード、ロングコードおよび第3グループのベクタデータを付加したエスケープコードとを、上記記憶装置からのノンベクタデータと併合して、圧縮テストパターンを形成するステップと、
その圧縮テストパターンをデコンプレッション手段で受け取り、上記ショートコード、ロングコードおよびエスケープコードを上記圧縮テストパターンから検出するステップと、
そのデコンプレッション手段により、上記翻訳テーブルに示された関係に基づいて、上記ショートコードとロングコードを、対応する第1グループと第2グループのベクタデータに翻訳するステップと、
上記デコンプレッション手段により翻訳された、第1および第2グループのテストベクタと、上記第3グループのテストベクタを、上記半導体試験装置内のパターンメモリに送出するステップ、
とを有する半導体試験装置用パターンデータのコンプレッション・デコンプレッション方法。
IPC (2件)：
G01R 31/3183 ( 200 6.01)
, G06F 11/22 ( 200 6.01)
G01R 31/28 Q
, G06F 11/22 310 B
