コンタクト検査方法およびコンタクト検査システム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：酒井伸司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-338919
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139813
特許番号：特許第4044317号
出願日： 2001年11月05日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】複数の電子部品を環状接続して構成されたネットワーク素子における当該隣り合う電子部品を相互に接続した接続部の各々と、当該各接続部に一端をそれぞれ接続した複数のプローブの各々との接続状態をインピーダンス測定装置を使用して検査するコンタクト検査方法であって、前記複数のプローブを前記環状に配置される第1番目から第N(Nは自然数)番目の接続部のうちの奇数番目の各接続部にそれぞれ接続された前記各プローブで構成される第1グループと、偶数番目の各接続部にそれぞれ接続された前記各プローブで構成される第2グループとにグループ分けし、当該第1グループに属するすべての前記プローブの他端を共通接続し、当該第2グループに属するすべての前記プローブの他端を共通接続し、当該2つの共通接続部位間のインピーダンスを測定し、その測定値と予め規定した基準値とを比較してその比較結果に基づいて前記接続状態を検査するコンタクト検査方法。

IPC (3件)：

G01R 31/02 ( 200 6.01) , G01R 27/02 ( 200 6.01) , G01R 31/00 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01R 31/02 , G01R 27/02 A , G01R 31/00

引用特許：

審査官引用 (7件)

特開平4-221780
特開昭60-166871
特開平3-175371

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