特許
J-GLOBAL ID：201103057417036593
光ファイバ歪測定装置および光ファイバ歪測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
志賀 正武 (外8名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-115535
公開番号（公開出願番号）：特開2000-304654
特許番号：特許第3392368号
出願日： 1999年04月22日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 歪みが無い状態の光ファイバである無歪被測定光ファイバと該無歪被測定光ファイバと同じ構成でかつ歪みが生じた状態の光ファイバである有歪被測定光ファイバとのそれぞれに同じ光信号を入射した場合について、該無歪被測定光ファイバの後方散乱光と該有歪被測定光ファイバの後方散乱光とのレベル差を求める第1の測定手段と、前記無歪被測定光ファイバに対して第1の光周波数の光信号を入射し、該無歪被測定光ファイバの各位置で発生する後方散乱光の光強度を示す初期時間変化波形を得る第2の測定手段と、前記有歪被測定光ファイバに対して第1の光周波数の光信号を入射し、該有歪被測定光ファイバの各位置で発生する後方散乱光の光強度を示す第1の時間変化波形を得る第3の測定手段と、前記第1の時間変化波形と前記初期時間変化波形とを比較し、光強度が互いに異なる位置である検出ポイントを検出する比較手段と、前記有歪被測定光ファイバに対して第2の光周波数の光信号を入射し、第2の時間変化波形を得る第4の測定手段と、前記第1の時間変化波形における前記検出ポイントの光強度である第1の光強度を前記レベル差に基づいて補正すると共に、前記第2の時間変化波形における前記検出ポイントの光強度である第2の光強度を前記レベル差に基づいて補正する補正手段と、入射光の光周波数と前記検出ポイントで発生した後方散乱光の光強度との対応関係を示すスペクトラム波形について、前記無歪被測定光ファイバに関する前記スペクトラム波形の近似曲線を平行移動した曲線であり、かつ、前記第1の光周波数と前記補正後の第1の光強度との対応関係、および、前記第2の光周波数と前記補正後の第2の光強度との対応関係を満たす曲線を求める曲線算出手段と、前記曲線算出手段が求めた曲線において、光強度が最大値を示す光周波数を求めるピーク周波数算出手段と、前記ピーク周波数算出手段が求めた光周波数に基づいて、前記検出ポイントにおける前記被測定光ファイバの歪量を求める歪量算出手段とを具備することを特徴とする光ファイバ歪測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/02 J
, H04B 9/00 K
