特許
J-GLOBAL ID:201103057580083930

超音波探傷方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 小林 久夫 ,  安島 清 ,  大村 昇 ,  高梨 範夫
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-177640
公開番号(公開出願番号):特開2001-004607
特許番号:特許第3944587号
出願日: 1999年06月24日
公開日(公表日): 2001年01月12日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数の振動子を有するアレイ探触子により超音波を送受信する振動子面積を複数N段階に変更可能とし、被検材の所定探傷範囲を前記複数Nと同数の範囲に分割し、予め前記N段階の各振動子面積にそれぞれ対応させて前記複数Nに分割したうち1つの探傷範囲を割り当てておき、前記超音波の送受信周期毎に1段階ずつ順次前記複数N段階に振動子面積を変更して被検材に超音波を送受信すると共に、前記各振動子面積に対応させて割り当てた各探傷範囲を探傷し、この各探傷範囲の受信信号より検出したきずの評価として、この検出したきずのエコー高さと前記各探傷範囲内のきず検出位置における超音波ビームの有効面積とに基づききず寸法を評価することを特徴とする超音波探傷方法。
IPC (1件):
G01N 29/44 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 29/22 504
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 特開昭57-017856
  • 特開平4-065670
  • 特開平3-049741
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