異物検査システム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山村喜信
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-168165
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356605
特許番号：特許第4275252号
出願日： 1999年06月15日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
請求項（抜粋）：

【請求項1】互いに平行に配列された2つのコンベヤにより搬送される各商品にX線照射手段からのX線を照射し、前記商品を透過したX線をX線検出器に入射させて、前記商品に付着している異物を検出することで合否の判定を行う異物検査システムにおいて、前記X線照射手段およびX線検出器を包含する光学系を2組設けると共に、これら2組のX線照射手段およびX線検出器を前記コンベヤの搬送方向に対して交差する平面上に設け、前記2組の光学系の光軸が、搬送方向の上流から見て互いに交差するように前記2組のX線照射手段およびX線検出器を配設し、前記各X線検出器からの出力に基づいて、各々、前記商品に異物が付着しているか否かの異物検出を行い、前記X線検出器のうちいずれか一つのX線検出器からの出力に基づいて、前記商品に異物が付着していると判別したときに、当該商品については不合格とする異物検査システムであって、前記各X線照射手段により2つのコンベヤ上の双方の商品にX線を照射可能で、前記各X線検出器は各々前記各コンベヤ上の商品についての前記異物を検出できるように検出範囲のアドレスが2分割されており、前記2つのX線検出器のうち一方のX線検出器からの出力に基づいて商品に異物が付着しているか否かの第1の異物検出を行い、前記第1の異物検出後、前記2つのX線検出器のうち他方のX線検出器からの出力に基づいて当該商品に異物が付着しているか否かの第2の異物検出を行う異物検査システム。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ( 200 6.01) , G01V 5/00 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01N 23/04 , G01V 5/00 A

引用特許：

審査官引用 (8件)

X線異物検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-292136 出願人：株式会社イシダ
特開昭62-226045
特開昭63-067552

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