特許

J-GLOBAL ID：201103058921990121

光フィルター、特性測定方法、分析機器、および光機器

発明者： 松野 靖史
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  須澤 修 ,  宮坂 一彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-010716
公開番号（公開出願番号）：特開2011-150108
出願日： 2010年01月21日
公開日（公表日）： 2011年08月04日
要約：

【課題】迅速な分光測定が可能な光フィルター、特性測定方法、分析機器、および光機器を提供する。【解決手段】 光フィルター3は、第一基板と、前記第一基板と対向する第二基板と、前記第一基板に設けられた第一反射膜と、前記第二基板に設けられ、前記第一反射膜と対向する第二反射膜と、前記第一基板に設けられた第一電極と、前記第二基板に設けられ、前記第一電極と対向する第二電極と、前記第一電極と前記第二電極との間の電位差を制御する電圧制御部81と、を備え、前記電圧制御部81は、前記電位差を、第一電位差から前記第一電位差より大きい第二電位差に切り替える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第一基板と、 前記第一基板と対向する第二基板と、 前記第一基板に設けられた第一反射膜と、 前記第二基板に設けられ、前記第一反射膜と対向する第二反射膜と、 前記第一基板に設けられた第一電極と、 前記第二基板に設けられ、前記第一電極と対向する第二電極と、 前記第一電極と前記第二電極との間の電位差を制御する電圧制御部と、 を備え、 前記電圧制御部は、前記電位差を、第一電位差から前記第一電位差より大きい第二電位差に切り替える ことを特徴とする光フィルター。

IPC (4件)：

G02B 26/00 ,  G02B 5/28 ,  G01J 3/26 ,  G01J 3/50

FI (4件)：

G02B26/00 ,  G02B5/28 ,  G01J3/26 ,  G01J3/50

Fターム (37件)：

2G020AA08 ,  2G020BA12 ,  2G020BA17 ,  2G020CA12 ,  2G020CB06 ,  2G020CB43 ,  2G020CC23 ,  2G020CC26 ,  2G020CC56 ,  2G020CC63 ,  2G020CD12 ,  2G020CD14 ,  2G020DA02 ,  2G020DA03 ,  2G020DA22 ,  2G020DA31 ,  2G020DA34 ,  2G020DA42 ,  2G020DA63 ,  2H048GA13 ,  2H048GA23 ,  2H048GA48 ,  2H048GA51 ,  2H141MA22 ,  2H141MB23 ,  2H141MB28 ,  2H141MC06 ,  2H141MD02 ,  2H141MD04 ,  2H141MD38 ,  2H141ME04 ,  2H141ME24 ,  2H141ME25 ,  2H141MF01 ,  2H141MG10 ,  2H141MZ03 ,  2H141MZ28

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-140028
  
• 赤外分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-203110   出願人：横河電機株式会社
• 光学フィルタ装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-089631   出願人：セイコーエプソン株式会社
• 波長可変フィルタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-187191   出願人：セイコーエプソン株式会社