特許

J-GLOBAL ID：201103060629875308

磁界測定方法および磁界測定装置

発明者： 須賀 卓 ,  上坂 晃一 ,  中村 聡 ,  林 良彦
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-197691
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014824
特許番号：特許第3812372号
出願日： 2001年06月29日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
請求項（抜粋）：

【請求項1】大規模集積回路(LSI)回路パッケージ内側の該LSIの電子回路の磁界分布を測定する磁界分布測定方法において、 第1の端部をグラウンドに、第2の端部を電圧測定デバイスに結合した測定回路を用いて、前記電子回路の電磁界によって該測定回路内に誘導された第1の電圧を測定する工程と、 該第1の端部を該電圧測定デバイスに、該第2の端部をグラウンドに結合した測定回路を用いて、前記電子回路の前記電磁界によって前記測定回路内に誘導された第2の電圧の測定する工程と、 前記第1の誘導電圧と前記第2の誘導電圧の間における差を用いて磁界誘導電圧を計算する工程を有することを特徴とする磁界分布測定方法。

IPC (3件)：

G01R 31/302 ( 200 6.01) ,  G01R 1/06 ( 200 6.01) ,  G01R 33/02 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01R 31/28 L ,  G01R 1/06 F ,  G01R 33/02 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 電磁界強度の測定方法及び装置並びに電流電圧分布の測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-006485   出願人：株式会社環境電磁技術研究所, 太陽誘電株式会社
• 大規模集積回路の非接触計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-265339   出願人：日本電気株式会社