特許
J-GLOBAL ID:201103062751322479
極小径ピンの端面測定方法及び測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
中村 政美
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-285338
公開番号(公開出願番号):特開2001-108425
特許番号:特許第3413649号
出願日: 1999年10月06日
公開日(公表日): 2001年04月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】 水平に支持した円柱状のピン周側面に回転力を与えながらピン端面をストッパーに当接させ、回転するピン端面の中心から偏移した位置の変位値を変位センサーで測定し、この変位測定値からピン端面の直角度を測定することを特徴とする極小径ピンの端面測定方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01B 21/30
, G01B 11/30 Z
引用特許:
出願人引用 (3件)
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円柱体の検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-146808
出願人:三菱原子燃料株式会社
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特開平2-159503
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特開昭56-101511
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