特許
J-GLOBAL ID：201103064001943911
電気化学素子の劣化検出方法、残容量検出方法、並びにこれらを用いた充電器および放電制御装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石井 和郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-173069
公開番号（公開出願番号）：特開2001-006756
特許番号：特許第3669673号
出願日： 1999年06月18日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 電極及びイオン伝導体を備えた電気化学素子の劣化検出方法であって、前記電気化学素子の構成要素の電気化学特性をパラメータとして表したモデルを用い、前記電気化学素子の電気化学特性を検出して得られる電気化学特性を示す検出値から、前記構成要素の前記電気化学特性を示す前記パラメータの値を算出し、前記パラメータの値を、前記構成要素の標準電気化学特性を示すパラメータの標準値と比較して前記電気化学素子の劣化度合いを推定する電気化学素子の劣化検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01M 10/48 P
, H01M 10/44 P
