特許

J-GLOBAL ID：201103065427411905

画像評価方法および装置並びにプログラム

発明者： 山田 雅彦
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-337418
公開番号（公開出願番号）：特開2003-141535
特許番号：特許第3945622号
出願日： 2001年11月02日
公開日（公表日）： 2003年05月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 少なくとも1つの信号領域が所定位置に配設された複数の評価領域からなるパターンであって、前記信号領域のサイズおよびコントラストが該各評価領域毎に段階的に異なるパターンについての評価対象画像を表す評価対象画像データの入力を受け付け、 前記評価対象画像および前記パターンについての参照画像のそれぞれの前記評価領域を分割して、前記評価対象画像および前記参照画像のそれぞれの前記評価領域において相対応する複数の分割領域を得、 前記評価対象画像および前記参照画像の相対応する前記分割領域内の信号値に基づいて、前記評価対象画像における全ての前記評価領域に存在する前記信号領域の位置を検出し、 該検出結果に基づいて、前記評価対象画像の評価を行うことを特徴とする画像評価方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01) ,  A61B 6/00 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G06T 7/00 Q ,  G06T 1/00 290 A ,  A61B 6/00 390 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 像品質試験ファントム・ツールおよびディジタルX線像処理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-072963   出願人：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
• 画像評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-141596   出願人：株式会社東芝
• パターン検査方法及びその装置並びに基板の処理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-128954   出願人：株式会社日立製作所
• 人工衛星画像等の位置ずれ補正方法および画像処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-239695   出願人：株式会社日立製作所