特許

J-GLOBAL ID：201103065973571123

マイクロコンピュータ及びその試験方法

発明者： 柳田 利文
出願人/特許権者： 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
代理人 (1件)： 藤巻 正憲
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-047187
公開番号（公開出願番号）：特開2000-242518
特許番号：特許第3105881号
出願日： 1999年02月24日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 プログラムが格納された読み出し専用メモリと、前記読み出し専用メモリの試験を行うための試験プログラムが格納された試験用メモリと、前記プログラム又は前記試験プログラムを読み出して実行する中央処理装置と、外部から所定の信号が入力され且つ前記中央処理装置を初期状態に戻すリセット信号がロウとなる毎に1度だけ前記試験用メモリのアドレスにジャンプする命令を前記中央処理装置に与える命令出力回路と、を有することを特徴とするマイクロコンピュータ。

IPC (2件)：

G06F 11/22 340 ,  G06F 15/78 510

FI (2件)：

G06F 11/22 340 C ,  G06F 15/78 510 K

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 集積回路のテスト回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-092281   出願人：三洋電機株式会社