特許
J-GLOBAL ID：201103067711375741
物体の三次元高さ計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
神崎 真一郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-367505
公開番号（公開出願番号）：特開2003-166815
特許番号：特許第3759584号
出願日： 2001年11月30日
公開日（公表日）： 2003年06月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 物体にスリット光を照射した状態で該物体を撮影し、得られた画像における上記スリット光を所定のシフト量で順次スキャンして該スリット光の形状を計測し、その形状から物体の三次元高さを演算する物体の三次元高さの計測方法において、
上記スリット光を検出するために、明るさが暗い状態から明るい状態に変化したときの閾値としてLtoH閾値を設定するとともに、明るさが明るい状態から暗い状態に変化したときの閾値としてHtoL閾値を設定し、かつLtoH閾値の値をHtoL閾値よりも明るくなるような値に設定し、
各スキャンの際には、検査している画素の明るさが上記LtoH閾値より大きいか否かを順次判定し、この画素の明るさが上記LtoH閾値より大きくなったら、次の画素からはその明るさがHtoL閾値より小さいか否かを判定し、検査している画素の明るさが上記HtoL閾値より小さくなったら今回のスキャンを終了して、予め定めたオフセット量だけ戻るとともにシフトして次のスキャンを開始することを特徴とする物体の三次元高さ計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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