特許
J-GLOBAL ID：201103068610446482
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-047093
公開番号（公開出願番号）：特開2000-241161
特許番号：特許第4154061号
出願日： 1999年02月24日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 測距対象からの反射光を集光する受光レンズと、集光された光が結像される受光素子により構成される受光センサとを備え、該受光センサの出力により測距対象までの距離を測定するようにした測距装置であって、
前記受光素子の背面側を位置決め基準として、前記受光センサを保持するための保持部材と、前記受光レンズを保持し背面から前記保持部材を突き当て可能な測距ブロックと、を備え、
前記保持部材の両端部には、前記受光センサを測距用レンズの光軸に対する位置の調整をする際に調整工具によって該受光センサを、前記背面側から保持するための二つの穴が形成され、当該形成された穴に前記調整工具が取り付けられた状態で受光センサ面に対して、前記保持部材を回転方向および平行方向に前記受光センサを移動可能とし、
前記受光素子と前記保持部材は接着剤により接着されると共に、前記保持部材の一方の面にTABテープを接着し、該TABテープの接着反対側の面で異方性導伝膜を介して該TABテープと前記受光素子のそれぞれの電極パッドが電気的に接続されることを特徴とする測距装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (1件)
-
測距装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-028327
出願人：キヤノン株式会社
審査官引用 (1件)
-
測距装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-028327
出願人：キヤノン株式会社
前のページに戻る
