特許
J-GLOBAL ID：201103069014342781
半導体集積回路における電源電流波形の解析方法及び解析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
青山 葆
, 河宮 治
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-026795
公開番号（公開出願番号）：特開2002-231813
特許番号：特許第3569681号
出願日： 2001年02月02日
公開日（公表日）： 2002年08月16日
請求項（抜粋）：
【請求項1】複数の論理ゲート回路からなるデジタル回路を含む半導体集積回路の電源電流波形を解析する方法であって、前記デジタル回路を、該デジタル回路に含まれる論理ゲート回路のスイッチング動作分布に基づいて電源とグラウンド間に接続されて充電される寄生容量の時系列からなる寄生容量列および静的に充電状態にある寄生容量群として表現し、該寄生容量列の一方の電極、静的に充電状態にある容量群の一方の電極、電源経路の寄生インピーダンス成分を接続し、該寄生容量列の他方の電極、静的に充電状態にある容量群の他方の電極、グラウンド経路の寄生インピーダンス成分を接続して解析モデルを生成し、該解析モデルを用いて前記デジタル回路の電源電流波形を求めることを特徴とする電源電流波形の解析方法。
IPC (4件)：
H01L 21/82
, G01R 29/26
, G01R 31/316
, G06F 17/50
H01L 21/82 T
, G01R 29/26 D
, G06F 17/50 652 A
, G06F 17/50 658 A
, G06F 17/50 658 V
, G06F 17/50 666 V
, G06F 17/50 666 Z
, G01R 31/28 C
